更新時間：2024-12-31
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A3-SR-100 反射式膜厚測量儀可用于測量半導體鍍膜，手機觸摸屏 ITO 等鍍膜厚度，PET 柔性 涂布的膠厚等厚度，LED 鍍膜厚度，建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測量膜厚的場合。A3-SR-100 可用于測量 10 納米到 100 微米的膜厚，測量精度達到 0.1 納米。 在折射率未知的情況下，A3-SR-100 還可用于同時對折射率和膜厚進行測量。此外，A3-SR-100還可用于精確測量樣品
| 價格區間 | 面議 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 醫療衛生,化工,建材/家具,電子/電池,道路/軌道/船舶 |
A3-SR-100反射式膜厚測量儀可用于測量半導體鍍膜，手機觸摸屏 ITO 等鍍膜厚度，PET 柔性 涂布的膠厚等厚度，LED 鍍膜厚度，建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測量膜厚的場合。A3-SR-100 可用于測量 10 納米到 100 微米的膜厚，測量精度達到 0.1 納米。 在折射率未知的情況下，A3-SR-100 還可用于同時對折射率和膜厚進行測量。此外，A3-SR-100還可用于精確測量樣品 的顏色和反射率。樣品光斑在 1 毫米以內。
A3-SR-100反射式膜厚測量儀進行測量簡單可靠，實際測量采樣時間低于 1 秒。配合我們的 Apris SpectraSys 軟 件進行手動測量，每次測量時間低于 1 秒。Apris SpectraSys 支持 20 層膜以內的模型并可對 多層膜厚參數進行測量。Apris SpectraSys 軟件還擁有近千種材料的材料數據庫，同時支持 函數型(Cauchy, Cauchy-Urbach,Sellmeier), 物理光學（Drude-Lorentz,Tauc-Lorentz）,混合型 （Maxwell Garnett, Bruggeman）EMA 等折射率模型。 同時，客戶還可以通過軟件自帶數據庫對材料，菜單進行管理并回溯檢查測量結果。
配手持式探頭,A3-SR-100可以用來一鍵式測量車燈罩表面硬化膜(包括過渡層)和背面的防霧層,精度達到0.02um, 只需1秒鐘,還可以測量內飾件,外飾件的鋁陽極氧化層和漆層的厚度,精度達到0.02um。
A3-SR-100系統參數：
1.產品尺寸： W270*D217*（H90+H140）mm
2.測試方式：可見VIS 反射(R)
3.波長范圍:380nm - 1050 nm
4.光源: 進口 鎢鹵素燈 壽命10000小時
5.光路和傳感器:光纖式(FILBER,進口 )+進口光譜儀
6.入射角:0 度 (垂直入射) (0 DEGREE)
7.參考光樣品: 硅片
8.光斑大?。篈bout 1 mm（標配，可以根據用戶要求配置）
9.樣品大?。?0 mm TO 300 mm (可以根據用戶要求配置)
10.測試方式：反射
